1、觀察孔障礙：對多數(shù)儀器而言，信號的任何減弱都會造成溫度指示值的下降；觀察窗上的污物影響多數(shù)高溫計的精度。

2、校驗：行業(yè)標準是每年校驗一次，但是，儀器的漂移和失效有自己的日程，理想的做法是對工廠使用的所有光學元件都進行校驗（觀察玻璃或觀察鏡）。

3、儀器校準：通過透鏡瞄準要求兩個光學路程準確重疊，這會影響所有等級的常規(guī)高溫計。

4、未知/變化中的發(fā)射率—多種合金、擾動效應、溫度和波長的依賴性以及加工過程中成分的變化等，所有這些都對發(fā)射率的不可預見性起著作用。

5、觀察窗玻璃材料：不是所有玻璃都具有同樣的透射性能；有的是“灰”色的，而另外一些玻璃的透射性則隨波長而發(fā)生變化。這會讓常規(guī)高溫計失靈。

6、蒸汽發(fā)射：對高壓熔化（接近和在大氣壓以上）而言，熔池或坩堝中溢出的氣體會增加或減少熱輻射，因此造成誤差。

    這些困難是光學溫度測量所特有的困難。同時，還有與精 密鑄造工藝相關的困難，這使得任何類型儀器儀表的溫度測量變得復雜化了，包括：

1、熔化技術：不良熔化技術會導致高蒸汽壓力元素過渡沸騰、熔池表面產(chǎn)生擾動或形成反應產(chǎn)品，所有這些都會造成常規(guī)高溫計的誤差。

2、鑄錠、坩堝、線圈間的匹配：對于熔化周期特性而言，熔化系統(tǒng)的這三個組分都是重要的。匹配不當會造成熔化緩慢和不均勻、局部過熱或濺射。上述這些也都是常規(guī)高溫計誤差的來源。

3、工藝變量的可接受范圍：除非整個熔化爐都處于穩(wěn)定狀態(tài)（通常情況下，這是不現(xiàn)實的），否則，在精 密鑄造過程中，溫度會有一個范圍，很重要的是，這個溫度范圍必須能保證產(chǎn)品的。

4、信號處理能力：測量儀器與控制設備之間的每個模擬打到數(shù)字或數(shù)字到模擬轉換都是潛在誤差源，寬廣的模擬范圍導致精 密度的缺乏。